主要规格及技术指标

电子源: X-FEG/UltiMono超稳定超高亮度电子枪 加速电压: 30KV、60KV、300KV 分辨率:STEM 50pm@300KV, 125pm@30KV TEM 信息分辨率60pm@ 300KV EELS 能量分辨率25meV EDS: Super-X超高灵敏度能谱仪 相机: Oneview IS 25fps@4096*4096 能量过滤系统: ContinuumK3 1069HR 16分割STEM探测器，可实现BF/ABF/ADF/HAADF/iDPC成像 4D-STEM信息收集 全自动三维重构 洛伦兹模式 旋进电子衍射

主要功能及特色

Spectra 300双球差校正透射电子显微镜可实现30~300KV的电压调节，具备超高 空间、时间及能量分辨率，可满足广泛的材料研究需求，用于材料形貌、原子结 构、电子结构、元素分布、晶体取向、应力分布、三维结构等应用方向，利用配备 的原位样品杆可以实现力、热、电、气、液等多场原位实验，实时动态地在原子尺 度观察反应的物理和化学过程，指导材料的精准设计。

主要附件及配置

无